| ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類(lèi)似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。 | ||||||||||||||
| ◆ 特點(diǎn)： | ||||||||||||||
 | ||||||||||||||
| ||||||||||||||
| ◆ 技術(shù)指標(biāo)： | ||||||||||||||
|
深圳市偉峰儀器儀表有限公司
地址：深圳市寶安區(qū)沙井街道步涌社區(qū)新和大道129號(hào)-177號(hào)(單號(hào))E1306
主營(yíng)產(chǎn)品：美國(guó)UVP紫外燈,美國(guó)sp紫外線燈,美國(guó)泛美38dl,,美國(guó)蒙那多頻閃儀,蒙那多轉(zhuǎn)速傳感器,ROS系列轉(zhuǎn)速傳感器
公司版權(quán)所有： 備案號(hào)：粵ICP備14041131號(hào) 總訪問(wèn)量：526206 站點(diǎn)地圖 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
